时序表
电磁阀记号 | DL1 延迟 | CHG加压 | DL2延迟 | BAL平衡 | DET检出 | DL3排气 | END结束 |
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SV1 | |||||||
SV2 |
相对压下降方式是指封入压力空气后,压力传感器测出压力下降值,直接显示。
差压测试法 | 直压测试法 (相对压下降方式) | |
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灵敏度 | 由于差压传感器不受测试压限制,而且使用微 压型差压传感器,所以可确保较高压力下高灵敏度的泄漏测试。 |
由于使用的是对应于测试压范围的压力传感器,而分辨率随着压力的增大而下降,因此泄漏的测试灵敏度也随之降低了。 |
温度或变形的影响 | 由于使用了标准品,施加的空气因温度上升或气温变化而产生的误差能相互抵消。由于分辨率高,即使检出时间短检测能力还是很高。 |
会因施加的空气温度上升或气温变化而产生测试误差。由于测试感度低所以需要延长检出时间。这样,在泄漏测试周期一定的情况下,检出时间一旦延长,加压稳定时间就相对缩短从而产生较大的测试误差。 |
在初始加压阶段,由于绝热变化或容积变化的影响,会引起较大的压力变动(误差)。 和相对压方式相比较,差压方式测试感度高,可以缩短检出时间。这样,在测试周期一定的情况下,可以设定比相对压更充分的稳定时间,从而可减少测试误差。 |
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互换性 | 即使测试压力不同,也可以使用相同的差压传感器。 |
为了得到最佳感度,必须使用与测试压范围相符的传感器。 |
参考下列各种测试方式的特点,选择最适合测试品的检测方式。
优点 | 缺点 | ||
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加压法 | 施加正压进行测试。测试对象:在使用中内部压力增大的测试品以及内部使用液体的测试品。 |
由于测试品压力大,所以可以提高测试能力。可通过目测气泡,检查具体泄漏点。 |
很容易受到温度变化、变形等引起的压力变化的影响。 |
减压法 | 抽取真空进行负压测试。测试对象:在负压下实际使用的测试品或者在测试时容易发生温度变化或变形的测试品。 |
不容易受温度变化,变形等引起的压力变化的影响。 |
和正压相比,测试压力范围受到限制。而且在相同的孔径下负压发生的泄漏量小。容易受水油产生的蒸气压力的影响 。无法确定泄漏的部位。 |
优点 | 缺点 | ||
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内压测出方式 | 测试测试品的内部测试对象:一般的测试品,开口部分较多的测试品。 |
密封夹具费用比外压式低。利用填充物减少内容积,提高测试感度。 |
压力增大时容易受到温度及测试物变形的影响。 |
通常采用计测内压的方式。为了提高测试精度并缩短测试的时间,请在测试品内增加填充物尽量减小其内容积。 |
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外压测试方法(2次压测出方式) | 向测试品内部加压,测出测试品外周和密封夹具之间所围成的空隙的压力变化。开口和凹凸少的测试品。 |
不受测试压限制,测试时间短测试精度高。特别有利于高压测试。 |
夹具的费用较高。难以密封开口部,有时无法进行目测检查。 |
内容积大的测试品以及容易通过外罩密封的测试品,将发生泄漏的一侧设置在大气压(或更低的压力)状态测试时,可以缩短测试时间。 |
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内腔型容积测出方式 | 将大泄漏测试品与外罩空隙的容积差转换成差压测试。测试对象:没有加压口的密封测试品。例如手表、电子部品等。 |
大小泄漏都可以测出,没有测不出的领域。可以测试小型物件。 |
需要密封腔。测试品需要有一定程度的内部空间。由于需要测出大泄漏的机构,测漏仪价格较高。 |
用于密封品的测试。对测试品的外周加压或抽取真空的方式进行泄漏测试。特别是追加了大泄漏测出行程,在加压的同时能测出测试品内达到测试压那样的大泄漏。 |
优点 | 缺点 | ||
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标准品比较 | 方式:与固定的基准标准品比较测试对象:一般的测试品 |
超过设定值的泄漏不会漏检。也可以用于不合格率较高的测试品的测试。 |
容易受到测试品的温度变化、变形以及夹具变形等因素的影响。 |
同时比较 | 使用时能交换方式:测试品之间相互比较、测试。测试对象:不合格率低的测试品,受温度或变形影响小的测试品 |
由于温度变化或变形的影响较小,所以测试精度高。可以缩短测试时间。 |
如果测试品的泄漏程度相同则无法测试。需要2套夹具。不合格率高的情况下不适用。 |
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